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Hecho en Colombia
C A P Garnier
Universidad Industrial de Santander
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Computer Aided Ellipsometry Applied to Thin Films
Acceso Cerrado
Fuente: Springer proceedings in physics
Yanina Ysabel De La Cruz Torres
Arturo Plata
C A P Garnier
Temas:
Ellipsometry
Software
Computer science
IBM
Thin film
Inverse
Computational science
Materials science
Computer graphics (images)
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Nanotechnology
Mathematics
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Publicado: 1992
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