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Hecho en Colombia
Luz D Morantes M
Universidad Industrial de Santander
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Characterization of the structure of the coating of multilayers using AFM and Interferometric Microscopy
Acceso Abierto
ART-ART_B
ID Minciencias: ART-0000107468-30879
Fuente: Journal of Physics Conference Series
Martha I Jerez A
Laura Lara O
Luz D Morantes M
Arturo Plata G
Yezid Torres Moreno
Petr Tsygankov
Temas:
Materials science
Characterization (materials science)
Deposition (geology)
Surface finish
Coating
Atomic force microscopy
Evaporation
Tin
Grain size
Microscopy
Metallurgy
Nanotechnology
Optics
Paleontology
Physics
Sediment
Biology
Thermodynamics
Publicado: 2011
Citaciones:
1
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0
Artículo de revista
1
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