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Hecho en Colombia
Miguel Ángel Venegas
Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional
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Microstructure AFM study and raman spectra of In-GaAs bilayers prepared by R.F. magnetron sputtering on Si(100) substrates
Acceso Abierto
ART-ART_C
ID Minciencias: ART-0000018341-159
Fuente: Journal of Physics Conference Series
Miguel Ángel Venegas
Roberto Bernal Correa
MAXIMO LOPEZ LOPEZ
Ao Pulzara
Alvaro Orlando Pulzara Mora
Temas:
Raman spectroscopy
Materials science
Microstructure
Sputter deposition
Analytical Chemistry (journal)
Surface roughness
Sputtering
Layer (electronics)
Atomic force microscopy
Grain size
Thin film
Optics
Chemistry
Nanotechnology
Composite material
Physics
Chromatography
Publicado: 2014
Citaciones:
5
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Atomic Force Microscopy Studies on GaAs/In Bilayers Deposited on Si (100)
Acceso Abierto
ART-ART_A2
ID Minciencias: ART-0000018341-50
Fuente: Microscopy Research
Miguel Ángel Venegas
Roberto Bernal Correa
MAXIMO LOPEZ LOPEZ
Alvaro Orlando Pulzara Mora
Temas:
Materials science
Micrograph
Atomic force microscopy
Surface roughness
Sputtering
Alloy
Surface finish
Sputter deposition
Grain size
Analytical Chemistry (journal)
Optical microscope
Morphology (biology)
Deposition (geology)
Phase (matter)
Microscopy
Microstructure
Nanotechnology
Scanning electron microscope
Composite material
Thin film
Optics
Chemistry
Paleontology
Physics
Organic chemistry
Chromatography
Sediment
Biology
Genetics
Publicado: 2015
Citaciones:
0
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
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