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Jhonny O Tolosa
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CARACTERIZATION OF THIN FILMS BY X’Pert-PRO PANalytical DIFRACTOMETER
Acceso Cerrado
Fuente: DOAJ (DOAJ: Directory of Open Access Journals)
Jhonny O Tolosa
César Armando Ortiz Otálora
Temas:
Materials science
Computer science
Publicado: 2014
Citaciones:
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Artículo de revista
CARACTERIZACION DE PELICULAS DELGADAS MEDIANTE EL DIFRACTOMETRO X’Pert-PRO PANalytical
Acceso Cerrado
ART-ART_D
ID Minciencias: ART-0000224154-289
Fuente: MOMENTO - Revista de Física
Jhonny O Tolosa
César Armando Ortiz Otálora
Temas:
Physics
Humanities
Art
Publicado: 2014
Citaciones:
1
Artículo de revista
CARACTERIZACIÓN DE PELÍCULAS DELGADAS MEDIANTE EL DIFRACTOMETRO X'Pert-PRO PANalytical CARACTERIZATION OF THIN FILMS BY X'Pert-PRO PANalytical DIFRACTOMETER
Acceso Cerrado
Jhonny O Tolosa
César Armando Ortiz Otálora
Temas:
Thin film
Diffraction
Materials science
X-ray crystallography
Optics
Characterization (materials science)
Analytical Chemistry (journal)
Physics
Chemistry
Nanotechnology
Chromatography
Publicado: 2014
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